1. <ruby id="606r5"></ruby>
      <acronym id="606r5"></acronym>

      <span id="606r5"><blockquote id="606r5"></blockquote></span>

      <span id="606r5"></span>
        1. <cite id="606r5"><li id="606r5"></li></cite>

          <ol id="606r5"><blockquote id="606r5"></blockquote></ol>

            歡迎來到上海曼戈斐光學技術有限公司網站!
            咨詢熱線

            17706131531

            當前位置:首頁  >  技術文章  >  原子力顯微鏡使用的注意事項

            原子力顯微鏡使用的注意事項

            發布時間:2022-06-14      點擊次數:178
            原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy,AFM),是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件(探針)之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。 
             
            AFM可以對樣品表面形態、納米結構、鏈構象等方面進行研究,獲得納米顆粒尺寸,孔徑,材料表面粗糙度,材料表面缺陷等信息,同時還能做表面結構形貌跟蹤(隨時間,溫度等條件變化)。也可對樣品的形貌進行豐富的三維模擬顯示,使圖像更適合于人的直觀視覺。結合儀器的各種標準操作模式以及附件,可在進行高分辨成像的同時,獲得包括樣品力學、電學、磁學、熱力學等各項性能指標。 
             
            原子力顯微鏡使用的注意事項:
             
            ①粉末/液體樣品請備注好制樣條件,包括分散液、超聲時間及配制濃度;
            ②測試壓電、表面電勢的材料需要將樣品制備在導電基底上,基底大小>0.5*0.5cm;
            ③PFM、KPFM測試需要樣品表面十分平整,粉末測試很難測到較好結果,下單前請確保風險可接受;
            ④塊狀樣品需要固定好,避免在寄送過程產生晃動或摩擦影響測試結果;
            ⑤超聲不超過20min,如需長時間超聲,需要自己超聲好以后給我們,但是長時間超聲后,對樣品的影響會比較大,需自行承擔測試風險;
            ⑥常規測試項目每樣提供2~3張圖片,特殊測試項目每樣提供1~2張圖片,力曲線每樣測試3~5條。
            上海曼戈斐光學技術有限公司
            • 聯系人:干女士
            • 地址:蘇州工業園區星漢街5號騰飛新蘇工業坊B幢6樓13室
            • 郵箱:ganxiafen@megphy.com
            • 傳真:0512-62510650
            關注我們

            歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息

            掃一掃
            關注我們
            版權所有©2022上海曼戈斐光學技術有限公司All Rights Reserved    備案號:滬ICP備18013203號-1    sitemap.xml    總流量:177576
            管理登陸    技術支持:化工儀器網    
            女人摸下面自熨视频在线播放,97夜夜澡人人双人人人喊,洗澡被公强奷30分钟视频,小寡妇高潮喷水了